日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 光學測量儀

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更新日期：2024-03-25

簡要描述：

日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410
IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。

日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410

總覽

高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進行現場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100）。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復印機的反光器和硅片）的質量控制而言，它是理想的選擇。

IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。

重量僅為350克（1.3磅），電池驅動，儀器更為便攜。通過簡單的一鍵式操作可進行快速可靠的測量。LED光源的使用壽命＜100000小時，因此無需更換零件。

IG-410 有兩個可供用戶選擇的測量范圍，具體取決于待測量的樣品。低光澤樣品可使用0 ~100范圍測量，高光澤樣品可使用0 ~ 1000范圍測量。提供兩個校準板，方便用戶使用簡單的一鍵式校準程序，以確保結果的再現性。

甚至在金屬等高光澤區域
也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區域，是光澤度檢查儀IG系列的新產品。測量范圍是0到100，是傳統型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。
緊湊輕巧的設計，易于現場測量
重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產現場以方便測量。
由于將LED用作光源，因此無需擔心光源的壽命。
可以通過
在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區域，例如涂在金屬板上的樣品。

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。

日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410

光學系統	入射角60°-接收角60°
測量面積	3 x 6毫米橢圓
光源	LED（波長890nm）
受光部	SPD（硅光電二極管）
測量范圍（顯示分辨率）	100范圍： 0.00至10.0（顯示分辨率0.1）1000范圍：0至100（顯示分辨率1）
重復性	滿量程的±1％
電源供應	AA干電池x 4
電池壽命	200小時以上（使用堿性干電池）
工作溫度極限	10-40℃
尺寸	機身：75W x 34D x 140H mm 傳感器：30W x 45D x 88H mm
大眾	約350g（帶內置電池）
其他功能	自動校準，自動關機范圍切換顯示（100/1000）超量程顯示，電池電量顯示測量值保持校準值設置
配件	用于100和1000量程的校準標準板