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在微觀缺陷決定產品質量的現代制造業中，一盞專業的高亮度照明燈，往往是提升良品率的關鍵。
在電子、液晶顯示和半導體制造行業中，產品的質量控制和缺陷檢測至關重要。山田光學YP-150I高亮度鹵素光源裝置憑借其照明性能和精準的缺陷檢測能力，成為這些行業不可少的質量控制工具。
YP-150I是日本山田光學專為精密工業檢測設計的高亮度鹵素光源裝置。它能夠在半導體晶片及液晶基板加工過程中，高效檢測出加工表面上的異物、劃痕、研磨不均、霧度、滑移等各種缺陷，為宏觀觀察提供超高亮度、高均勻性的照明解決方案。
在半導體制造過程中，YP-150I主要用于檢測硅晶片、砷化鎵、碳化硅等半導體材料的表面缺陷。
其超過400，000 Lux的照度能夠發現僅有精密探測儀才能測出的微小瑕疵，顯著提升檢測效率和準確性。該設備特別適用于6英寸半導體晶片的檢測工作。
對于液晶基板的表面外觀檢查，YP-150I表現出色。其高均勻性的照明能夠清晰呈現玻璃表面的微小劃痕、拋光不均和霧狀缺陷，
幫助操作人員肉眼識別以往難以發現的質量問題，大幅減少人工檢查的盲區。
在精密電子元件制造領域，YP-150I為質量控制提供了可靠的照明保障。其高色溫（3400K）、照明不均少的特點確保了觀察效果的穩定性和銳利度，
使得微小缺陷無所遁形，有效降低不良品流入下游工序的風險。
山田光學YP-150I集成了多項先進光學技術，確保其在工業檢測中的性能：
超高照度：提供超過400，000 Lux的照度（照射面積30mmφ），足以檢測最微小的表面缺陷
優質光源：采用鹵素燈作為光源，色溫高達3400K，照明均勻性佳，提供穩定而銳利的照明效果
冷鏡技術：使用冷鏡后，熱影響降低到傳統鋁鏡的1/3，減少熱效應對檢測樣品的影響
智能切換：通過兩級切換機構，一鍵切換高照度觀察和低照度觀察，適應不同檢測需求
靈活調節：光束直徑可在30-50mm之間調整，底部開關可調節照明高度，操作簡便，光量可控
| 參數 | YP-150I | YP-250I |
|---|---|---|
| 照射范圍 | 30mmφ | 60mmφ |
| 照度 | ≥ 400，000 Lux | ≥ 400，000 Lux |
| 照射距離 | 140mm | 220mm |
| 光源 | 鹵素燈（使用冷鏡） | 鹵素燈（使用冷鏡） |
| 燈型 | JCR15V150W（牛尾） | ELC24V250W（歐司朗） |
| 壽命 | 50小時 | 35小時 |
| 色溫 | 3，400K° | 3，400K° |
| 色調 | 白色 | 白色 |
| 環境溫度 | 0～40℃ | 0～40℃ |
| 冷卻方式 | 強制排氣冷卻 | 強制排氣冷卻 |
| 連接 | 12φ安裝軸 | 20φ安裝軸 |
| 尺寸（燈箱部分） | 100(W)×245(H)×116(D)mm | 120(W)×388(H)×130(D)mm |
| 重量（燈箱部分） | 約1.7kg | 約2.7kg |
*表：YP-150I及YP-250I主要技術規格對比*
YP-150I在半導體和液晶行業的應用范圍廣泛，涵蓋多個關鍵工藝環節：
晶圓表面缺陷檢測：及時發現硅片表面的異物、劃痕等缺陷
光刻工藝中的表面檢查：確保光刻前基板表面無瑕
化學機械拋光（CMP）后的表面檢查：驗證拋光效果，發現拋光不均問題
晶圓切割和封裝前的最終檢查：作為出廠前的最后質量關口
研發與實驗室應用：為材料研究和工藝開發提供精準觀察手段
質量控制與良率提升：貫穿整個生產過程，幫助持續提升產品良率
選擇山田光學YP-150I高強度鹵素燈作為您的檢測照明解決方案，意味著您將獲得：
降低對精密探測儀的依賴，節省設備投資成本
操作簡便，檢測人員能夠快速上手使用
長壽命設計，雖然鹵素燈壽命有限（50小時），但維護更換簡便
成熟的冷卻系統，確保設備長時間穩定運行
山田光學YP-150I高亮度鹵素光源裝置是電子、液晶和半導體行業質量控制的理想選擇。其超過400，000 Lux的照度、均勻穩定的照明效果以及人性化的操作設計，使其成為表面缺陷檢測領域強者。
無論是用于生產線上的批量檢測，還是研發環節的精密觀察，YP-150I都能提供可靠的光學支持，幫助企業提升產品質量，降低生產成本，增強市場競爭力。
